Artikel
JFET-tester
voor het snel controleren en selecteren van FET's
Veel elektronica-ontwerpers hebben het nog altijd niet zo begrepen op FET's. Zeer ten onrechte, want in talloze toepassingen zijn deze superieur aan bipolaire transistoren. Als naast een hoge grensfrequentie en een laag ruisgetal bijvoorbeeld tevens een hoge ingangsimpedantie vereist is, dan vormt een JFET bijna altijd een goede keus. Met deze tester kunnen de twee belangrijkste parameters van een FET op simpele wijze worden gemeten en misschien dat hierdoor wat reserves ten aanzien van het gebruik van FET's worden weggenomen.Hoewel de datasheet van een willekeurige FET meestal een verbijsterende hoeveelheid cijfers en curven bevat, is het aantal echt essentiële selectiecriteria om een onbekende FET te kunnen identificeren niettemin beperkt tot twee stuks. Aan de hand van dezelfde twee parameters is het ook mogelijk om uit een hoeveelheid FET's "matched pairs" te selecteren.
Onderdelenlijst
Weerstanden:
R1 = 1 x 5k6
R2 = 1 x 22 k
R3 = 1 x 10 M
R4,R5 = 2 x 100 k
R6 = 1 x 10 (1%)
P1 = 1 x 5 k multiturn (verticaal)
Condensatoren:
C1 = 1 x 100 µ/16 V
C2, C3 = 2 x 100 n
C4 = 1 x 1 n
C5 = 1 x 10 µ/63 V
Halfgeleiders:
D1 = 1 x 1N4001
D2,D3 = 2 x 1N4148
T1 = geteste FET (D.U.T.)
IC1 = 1 x 79L12
IC2 = 1 x TL071CP
Diversen:
M1 = digitale voltmeter (DVM)
K2,K3,K4 = 3 x 3-polige contactrij (met gedraaide contacten)
S1 = drukknop (bijv. digitast)
K1 = netadapter-aansluitbus
kunststof behuizing
R1 = 1 x 5k6
R2 = 1 x 22 k
R3 = 1 x 10 M
R4,R5 = 2 x 100 k
R6 = 1 x 10 (1%)
P1 = 1 x 5 k multiturn (verticaal)
Condensatoren:
C1 = 1 x 100 µ/16 V
C2, C3 = 2 x 100 n
C4 = 1 x 1 n
C5 = 1 x 10 µ/63 V
Halfgeleiders:
D1 = 1 x 1N4001
D2,D3 = 2 x 1N4148
T1 = geteste FET (D.U.T.)
IC1 = 1 x 79L12
IC2 = 1 x TL071CP
Diversen:
M1 = digitale voltmeter (DVM)
K2,K3,K4 = 3 x 3-polige contactrij (met gedraaide contacten)
S1 = drukknop (bijv. digitast)
K1 = netadapter-aansluitbus
kunststof behuizing
Discussie (0 opmerking(en))